SPS5000半导体参数测试软件在测试BJT中的应用

直流输入特性曲线是通过测量不同VCE下的IB和VBE关系得到的。当VCE=0V时，发射结处于正向偏压状态，IC=0;当VCE 增加时，集电结进入反偏状态，开始收集电子，IC_增加，特性曲线向右移动。这些曲线展示了晶体管在不同VCE下的工作状态。

直流输出特性曲线描述了集电极电流IC与集电极-发射极电压VCE之间的关系。当VCE=OV时，集电极无收集作用，IC=0;随着VCE增加，集电结反偏电压增大，IC增加;当VCE足够大时，IC达到饱和，特性曲线进入与VCE轴平行的区域。这些曲线分为三个区域:截止区、放大区和饱和区。

ITECH专业的SPS5000半导体参数测试软件是与IT2800系列高精密源/测量单元配套使用，可以帮助用户快速实现半导体器件检定，器件电性能参数以及器件-V特性测试。软件支援直流DC、脉冲、单向和双向等多种扫描测试模式，配合其直观的图形化用户界面，可以帮助高校实验室、半导体企业以及研究机构快速执行器件特性分析，而无需具备任何的编程知识。

我国BJT行业起步较早，市场参与者众多，仍有较大测试需求。本文将介绍如何通过SPS500半导体参数测试软和图形化源测量单元IT2800实现BJT输出特性曲线测试。

场景案例

SS8050 是一种NPN型三极管，常用于低功率放大和开关应用。它以其高电流增益、低饱和压降和优良的开关特性而受到青睐。SPS5000 测试 SS8050 NPN  BJT的Ic-Vc特性，Ib扫描，该三极管的规格参数为:

用户需要在SPS5000软件中选择对应的测试项，填写BJT的规格参数，扫描电流，起始结束电压等:

按照测试项的接线示意图，连接好IT2800和待测物BJT，然后在软件中配置好对应的机器连接对应的基极和集电极。运行测试项目结束后，会在下方运行结果窗口生成测试报告，双击测试报告后，可以看到测试的曲线以及所有记录的参数，用户可以利用软件提供的各种图表分析工具，如曲线自动缩放、恒值线、区域标记、切线、分布线等，快速完成对测试结果的分析。用户无需导出图表后借助其他辅助工具，更加方便快捷。此外，软件还支持多丫轴功能，并允许用户根据分析需求灵活配置X轴和Y轴的数据类型，以及选择log或linear刻度显示格式，让曲线显示更直观和符合分析的意图:

测试优势:选配ITECH的SPS5000软件结合IT2800高精度源表，可以实现自动化的半导体静态特性测试。SPS5000软件内建的半导体模型及丰富的静态指标测试项目，您只需要进行简单的参数配置即可快速完成测试。当测试完成后，上位机软件可以对多次测试进行综合的分析，显示测试参数和曲线，帮助工程师提升测试效率。

SPS5000软件提供内置的MOSFET、BJT、二极管以及其他双端器件结构模型，并为每种类型的器件提供即用型测试项。测试人员可以根据测试需求，选择单一测试项进行手动器件验证，或选择多个测试项构建测试序列(适用于相同的测试接线)，以快速执行器件的多参数分析。SPS5000同时提供了出色的数据记录、曲线描绘以及导出分析等功能，是一款能够帮助用户立即提高测试效率的专业测试软件。